Satoshi Hamaguchi 研究室
主宰者:Satoshi Hamaguchi
大阪大学
AI 要約(直近 5 年の研究成果)
Satoshi Hamaguchi研究室は、プラズマと物質の相互作用を研究対象としています。特に、半導体製造工程で必要とされる薄膜成膜・エッチング技術における表面反応の詳細な解明に取り組んでいます。シリコン窒化膜の原子層成膜・エッチング、タングステンやアルミナなどの材料表面の加工、そしてグラフェンなどの二次元材料への低エネルギーイオン照射の効果について、多角的に検討しています。
研究手法として、分子動力学シミュレーションや粒子シミュレーション、化学反応輸送モデルなどの計算科学を活用することが特徴です。同時に、質量分析装置を用いたイオンビーム照射実験、ラマン分光やX線光電子分光などの分析手法、光学放射分光を含む各種計測により、実験と理論の両面からアプローチしています。さらに機械学習などの人工知能技術をデータ解析に導入し、プラズマ診断や分光分析の精度向上を図っています。
これらの研究を通じて、プラズマ中で生成される活性種(イオン、ラジカル、光子など)が表面でどのような化学反応を引き起こし、欠陥形成や材料改質をもたらすのかについて、原子・分子レベルの理解を深めています。得られた知見は、微細加工技術の精密化や医療応用を視野とした生体材料表面の機能化など、幅広い応用につながる基礎研究として位置づけられています。
※ AI(Claude)が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
外部リンク
関連研究室(8 件)
- 工学Yiguang Ju 研究室東北大学論文 100 件·共通: プラズマ, 分光, 古典物理, 理論・分光 +11
- 物理学・天文学Kiyoshi Ueda 研究室東北大学論文 100 件·共通: プラズマ, 分光, 古典物理, 力学 +11
- 化学Yukihiro Ozaki 研究室関西学院大学論文 100 件·共通: 分析手法, 分析化学, 分光, 理論・分光 +11
- 物理学・天文学Masaaki Fujii 研究室東京工業大学論文 101 件·共通: 質量分析, 分析手法, 分析化学, 分光 +9
- 材料科学Keiji Tanaka 研究室九州大学論文 105 件·共通: 分析手法, 古典物理, 力学, 基礎物理 +10
- 材料科学Shigeo Maruyama 研究室東京大学論文 100 件·共通: 分光, 古典物理, 力学, 理論・分光 +10
- 工学Yusuke Ito 研究室University of Tokyo Hospital論文 100 件·共通: プラズマ, 分光, 理論・分光, 光学 +8
- 生化学・分子生物学・遺伝学Keisuke Saito 研究室東京大学論文 100 件·共通: 古典物理, 力学, 理論・分光, 基礎物理 +8
研究成果(67 件)
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ae810b
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2026.239808
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adbeca
- DOI: https://doi.org/10.1007/s42247-025-01033-8
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0004137
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0265368
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/ae2877
- [2025] Etching characteristics of tungsten and tungsten compounds by energetic fluorocarbon and argon ionsDOI: https://doi.org/10.1116/6.0004658
- DOI: https://doi.org/10.1615/plasmamed.2025059711
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adc6d5
続きを表示(残り 57 件)閉じる
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/ad4e42
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0190062
- DOI: https://doi.org/10.1007/s11090-024-10465-9
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2023.130365
- DOI: https://doi.org/10.1615/plasmamed.2025058313
- DOI: https://doi.org/10.69646/aob103p099
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.carbon.2024.119852
- DOI: https://doi.org/10.1149/ma2024-02201783mtgabs
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0219480
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0003750
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0003724
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0003731
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad5d77
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0003579
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0002978
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6595/ad0ede
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6595/aceeae
- DOI: https://doi.org/10.1109/tps.2023.3268170
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/acd261
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/accde6
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0002381
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0002380
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6595/acb28c
- DOI: https://doi.org/10.1615/plasmamed.2023051355
- DOI: https://doi.org/10.1615/plasmamed.2024052737
- DOI: https://doi.org/10.1615/plasmamed.v13.i3.10
- [2022] Molecular dynamics simulation of oxide-nitride bilayer etching with energetic fluorocarbon ionsDOI: https://doi.org/10.1116/6.0002182
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6595/ac95bc
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac9189
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6595/ac907e
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0002003
- DOI: https://doi.org/10.1109/icecet55527.2022.9873493
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac7371
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac5e1c
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac629b
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac61f6
- [2022] Structural and electrical characteristics of ion-induced Si damage during atomic layer etchingDOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac6052
- DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac57dc
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0077762
- DOI: https://doi.org/10.1002/ppap.202100032
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0047123
- DOI: https://doi.org/10.1038/s41598-021-97460-8
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0001230
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0001117
- DOI: https://doi.org/10.1116/6.0000979
- [2021] Characterization of descriptors in machine learning for data-based sputtering yield predictionDOI: https://doi.org/10.1063/5.0006816
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0066318
科研費(0 件)
まだデータがありません(KAKEN 取り込み後に表示)。
所属学会・役職(0 件)
まだデータがありません(学会データ連携後に表示)。