K. Okamoto 研究室
主宰者：K. Okamoto
東京工業大学
AI 要約（直近 5 年の研究成果）
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研究成果（57 件）
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- DOI: https://doi.org/10.1002/aelm.70215
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- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jmat.2025.101129
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adf7b2
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adf4f0
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adefe9
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.actamat.2025.121315
- DOI: https://doi.org/10.1021/acsaelm.5c00262
- DOI: https://doi.org/10.1021/acsaelm.5c00556
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- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0244707
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0268889
- DOI: https://doi.org/10.2109/jcersj2.25009
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0261572
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adb46c
- DOI: https://doi.org/10.1002/aelm.202400880
- DOI: https://doi.org/10.1002/aelm.202500451
- DOI: https://doi.org/10.1002/adma.202511001
- DOI: https://doi.org/10.1002/admi.202400627
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0236507
- [2024] Thickness Dependence of Ferroelectricity for Thin (Al<sub>0.9</sub>Sc<sub>0.1</sub>)N-based FeRAMDOI: https://doi.org/10.1109/imfedk64776.2024.10814248
- DOI: https://doi.org/10.1002/adfm.202409240
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2024.b-4-01
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad6fa9
- DOI: https://doi.org/10.1021/acsaelm.4c00368
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0202063
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.wss.2024.100212
- DOI: https://doi.org/10.2109/jcersj2.23207
- DOI: https://doi.org/10.2109/jcersj2.23210
- DOI: https://doi.org/10.1109/iitc61274.2024.10732217
- DOI: https://doi.org/10.1021/acsaelm.4c00134
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- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ace3ce
- DOI: https://doi.org/10.1172/jci.insight.171962
- [2023] Invariant polarization switching kinetics in an (Al0.8Sc0.2)N film with frequency and temperatureDOI: https://doi.org/10.1063/5.0171108
- DOI: https://doi.org/10.1002/aelm.202300405
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ace330
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- DOI: https://doi.org/10.2494/photopolymer.35.125
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.ijsolstr.2022.112048
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0117302
- DOI: https://doi.org/10.1017/s0022377822000599
- DOI: https://doi.org/10.1109/iitc52079.2022.9881293
- DOI: https://doi.org/10.1049/icp.2022.0260
- DOI: https://doi.org/10.1049/icp.2022.0245
- DOI: https://doi.org/10.2139/ssrn.4218194
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.apt.2021.01.027
- DOI: https://doi.org/10.1038/s41598-021-96558-3
- DOI: https://doi.org/10.1038/s41467-021-21200-9
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