S. Tōyama 研究室
主宰者：S. Tōyama
東京大学
AI 要約（直近 5 年の研究成果）
本研究室は、電子顕微鏡を用いた微細領域の電場・電荷の直接観察を主な研究テーマとしています。特に、差分位相コントラスト走査透過電子顕微鏡（DPC-STEM）という手法を発展させ、これまで見えなかった原子スケールの電場や電荷分布を可視化する方法論の確立に取り組んでいます。半導体デバイスの界面、強誘電体の領域壁、セラミックスの粒界など、様々な材料における微視的な電場構造を測定し、定量評価しています。
手法面では、試料に電圧を印加した動作状態での観察（オペランド測定）や、傾斜角度をスキャンして精度を高めた測定法など、DPC-STEMの測定プロトコルの改善を進めています。同時に、シミュレーション計算との比較検証を通じて、観察結果の信頼性を確保しています。これらの成果は、窒化ガリウム系高電子移動度トランジスタなどの次世代電子デバイスや、酸素イオン伝導体といった機能性材料の特性理解に応用されており、材料開発と性能向上に貢献する基礎研究となっています。
※ AI（Claude）が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
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研究成果（26 件）
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- [2025] Direct Visualization of Two-dimensional Electron Gas at Semiconductor Interface Using tDPC STEMDOI: https://doi.org/10.2320/materia.65.20
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0294172
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- DOI: https://doi.org/10.1038/s41467-024-53014-w
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- DOI: https://doi.org/10.1038/s41565-023-01349-8
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- DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2022.113538
- DOI: https://doi.org/10.1541/ieejeiss.142.367
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- DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2022.113580
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- DOI: https://doi.org/10.22443/rms.emc2020.566
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