Kiyoshi Takamasu 研究室
主宰者:Kiyoshi Takamasu
東京大学
AI 要約(直近 5 年の研究成果)
本研究室は、工業用製造現場で生じる微小な表面欠陥を自動で検出し、製品品質を確保することに取り組んでいます。光学レンズ、はんだ接合部、積層セラミックコンデンサなど多様な部品を対象として、視覚的に判別が難しい欠陥の形状や大きさのばらつきに対応する方法を開発しています。
手法として、深層学習に基づく画像認識モデルを構築し、カメラを用いた検査システムに組み込んでいます。注意機構(アテンション)による特徴抽出の強化、複数スケールの欠陥に対応できるネットワーク設計、アノテーション作業が限定的な場合への対応などが主な技術課題です。またレーザーセンサなど複数のセンシング手法と深層学習を組み合わせ、3次元形状の高精度測定にも応用しています。
これらの研究を通じて、従来は人手に頼っていた品質検査の自動化と高速化を実現することを目指しています。工業用計測システムにおいて、微小で不明瞭な欠陥を正確かつ効率的に識別する手法の確立は、製造業全体の生産性向上につながる課題です。
※ AI(Claude)が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
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研究成果(15 件)
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- DOI: https://doi.org/10.2493/jjspe.89.561
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2023.107924
- DOI: https://doi.org/10.1364/oe.489959
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- DOI: https://doi.org/10.1364/oe.482389
- DOI: https://doi.org/10.1007/s41871-022-00170-6
- [2022] Void and solder joint detection for chip resistors based on X-ray images and deep neural networksDOI: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114587
- DOI: https://doi.org/10.1007/s41871-021-00104-8
- DOI: https://doi.org/10.2493/jjspe.87.1
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