Takashi Satō 研究室
主宰者：Takashi Satō
京都大学
AI 要約（直近 5 年の研究成果）
本研究室は、半導体デバイスとその周辺システムの設計・評価に関する幅広い研究を展開しています。特に、集積回路の信頼性評価と製造プロセスの質保証に注力しており、ウェーハテスト時に不良チップを高精度で検出する手法や、温度環境下でのデバイス特性変化を予測するモデル開発を行っています。また、低温環境で動作する超伝導量子コンピュータの制御回路設計にも取り組み、極低温下でのトランジスタ動作特性の解明と電子回路モデルの拡張を進めています。
さらに、エネルギー効率の高い次世代デバイスやシステムの実現を目指した研究も多くあります。電力変換用パワーデバイスの動作中における劣化メカニズムの調査、省エネルギー型ニューラルネットワーク加速器の開発、衛星などの組み込みシステム向けの超低消費電力AI処理技術の設計などが含まれます。これらを通じて、信頼性が高く、効率的に動作する電子デバイスとシステムの実現に貢献しています。
※ AI（Claude）が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
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研究成果（100 件）
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- DOI: https://doi.org/10.1109/tc.2026.3654172
- DOI: https://doi.org/10.1007/s00031-026-09945-3
- DOI: https://doi.org/10.1109/embc58623.2025.11253208
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- [2025] Backward stochastic difference equations on lattices with application to market equilibrium analysisDOI: https://doi.org/10.1017/jpr.2025.10045
- DOI: https://doi.org/10.1109/ecce58356.2025.11259731
- DOI: https://doi.org/10.1121/10.0040523
- DOI: https://doi.org/10.1109/dac63849.2025.11132097
- DOI: https://doi.org/10.1109/dac63849.2025.11133309
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- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2025.3572874
- [2025] A 22nm Resource-Frugal Hyper-Heterogeneous Multi-Modal System-on-Chip Towards In-Orbit ComputingDOI: https://doi.org/10.1109/cicc63670.2025.10983627
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts63811.2025.11068929
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts63811.2025.11068925
- DOI: https://doi.org/10.1109/tcad.2025.3541565
- DOI: https://doi.org/10.1145/3658617.3703140
- DOI: https://doi.org/10.1145/3658617.3703138
- DOI: https://doi.org/10.1145/3658617.3703137
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.dental.2025.03.082
- DOI: https://doi.org/10.2208/jscejj.24-13555
- DOI: https://doi.org/10.2208/jscejj.24-13534
- DOI: https://doi.org/10.1109/access.2025.3600278
- DOI: https://doi.org/10.2208/jscejj.23-13155
- DOI: https://doi.org/10.1109/asp-dac58780.2024.10473861
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- DOI: https://doi.org/10.1145/3649329.3657320
- DOI: https://doi.org/10.1109/host55342.2024.10545374
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts59902.2024.10520702
- DOI: https://doi.org/10.1109/jflex.2024.3354715
- DOI: https://doi.org/10.1002/ksa.12147
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- DOI: https://doi.org/10.1145/3609105
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2023.d-6-01
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- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad163e
- DOI: https://doi.org/10.36463/idw.2023.0045
- DOI: https://doi.org/10.1541/ieejpes.143.578
- DOI: https://doi.org/10.1109/iccad57390.2023.10323648
- DOI: https://doi.org/10.1109/itc51656.2023.00029
- [2023] Uncertainty-Aware Haptic Shared Control With Humanoid Robots for Flexible Object ManipulationDOI: https://doi.org/10.1109/lra.2023.3306668
- DOI: https://doi.org/10.1109/fleps57599.2023.10220369
- DOI: https://doi.org/10.23919/isdeiv55268.2023.10199399
- DOI: https://doi.org/10.1002/sdtp.16788
- [2023] 87‐1: <i>Invited Paper:</i> A Novel Reflective 90‐inch TFT LCD with UV <sup>2</sup> A TechnologyDOI: https://doi.org/10.1002/sdtp.16798
- DOI: https://doi.org/10.1109/lsens.2023.3271988
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts55420.2023.10094067
- DOI: https://doi.org/10.1541/ieejpes.143.176
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/acb2be
- DOI: https://doi.org/10.1186/s40634-023-00686-w
- DOI: https://doi.org/10.1186/s40634-022-00558-9
- DOI: https://doi.org/10.1109/tpel.2022.3231894
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- DOI: https://doi.org/10.1145/3508352.3561106
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2022.d-5-04
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2022.d-6-06
- DOI: https://doi.org/10.1109/tcad.2022.3197488
- DOI: https://doi.org/10.1109/emcsi39492.2022.9889445
- DOI: https://doi.org/10.1109/tc.2022.3188211
- DOI: https://doi.org/10.1158/1538-7445.am2022-5715
- DOI: https://doi.org/10.4213/tm4289
- DOI: https://doi.org/10.1002/sdtp.15548
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts50340.2022.9898196
- DOI: https://doi.org/10.1109/icmts50340.2022.9898216
- DOI: https://doi.org/10.1109/apec43599.2022.9773444
- DOI: https://doi.org/10.1109/irps48227.2022.9764536
- DOI: https://doi.org/10.1109/jsen.2022.3153714
- DOI: https://doi.org/10.1109/tcad.2022.3149856
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac4b0c
- DOI: https://doi.org/10.1186/s43019-021-00106-2
- [2021] Investigation of BTI-induced Threshold Voltage Shift for Power MOSFETs during Switching OperationDOI: https://doi.org/10.1109/3d-peim49630.2021.9497260
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac44cf
- DOI: https://doi.org/10.1109/dac18074.2021.9586198
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.compbiomed.2021.105023
- DOI: https://doi.org/10.1145/3474366.3486927
- DOI: https://doi.org/10.1109/iccad51958.2021.9643523
- DOI: https://doi.org/10.1109/tpel.2021.3118057
- DOI: https://doi.org/10.1109/biocas49922.2021.9644650
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- DOI: https://doi.org/10.1109/sispad54002.2021.9592550
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- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2021.l-4-05
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2021.d-2-05
- DOI: https://doi.org/10.1107/s0108767321087225
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- DOI: https://doi.org/10.1109/ecce47101.2021.9595345
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