Jun Suda 研究室
主宰者:Jun Suda
名古屋大学・Nagoya University Hospital
AI 要約(直近 5 年の研究成果)
Suda研究室は、次世代パワーデバイスの材料として注目されている窒化ガリウム(GaN)およびガリウム酸化物系半導体の物性制御と素子化に関する研究を展開しています。特に、イオン注入と高温・高圧焼成プロセスを組み合わせた選択的ドーピング技術を活用し、GaN内に導入されるトラップ・欠陥の生成機構を解明することで、デバイス性能の向上を目指しています。GaN中の電子・正孔の捕捉・放出特性や深いエネルギー準位の欠陥を詳細に評価し、プロセスパラメータとの関連性を調べることで、より高品質で安定動作するデバイスの実現に取り組んでいます。
結晶成長から素子設計・評価まで、幅広いアプローチを採用しており、有機金属気相成長法(MOVPE)やミスト化学気相成長法などの薄膜形成技術を用いた高純度材料の製造、および構造解析や電気特性測定による多角的な材料評価を実施しています。さらに、HEMTやショットキーダイオード、MOSFET、整流素子など様々なデバイス構造を試作し、シミュレーション解析と組み合わせることで、構造パラメータが性能に及ぼす影響を明らかにしています。これらの研究を通じ、高周波・高出力応用に適した窒化物半導体デバイスの開発に貢献することを目指しています。
※ AI(Claude)が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
外部リンク
関連研究室(8 件)
- 工学Masaharu Shiratani 研究室九州大学論文 100 件·共通: 薄膜, 半導体, 電子工学, 電気・電子 +9
- 工学Takafumi Fukushima 研究室東北大学論文 116 件·共通: 薄膜, 半導体, 電子工学, 電気・電子 +6
- 工学Toshiro Hiramoto 研究室東京大学論文 100 件·共通: 薄膜, 半導体, 電子工学, 電気・電子 +7
- 社会科学Akitoshi Okino 研究室東京工業大学論文 100 件·共通: 薄膜, プロセス・反応, 化学工学, プロセス +7
- 工学Takahiro Kozawa 研究室大阪大学論文 100 件·共通: 薄膜, 半導体, 電子工学, 電気・電子 +4
- 工学Atsushi Wakamiya 研究室Kyoto University Institute for Chemical Research論文 100 件·共通: プロセス・反応, 化学工学, プロセス, エネルギー +7
- 工学Seiichiro Izawa 研究室大阪大学論文 100 件·共通: プロセス・反応, 化学工学, プロセス, エネルギー +7
- 工学Katsuyoshi Kondoh 研究室大阪大学論文 100 件·共通: プロセス・反応, 化学工学, プロセス, 材料工学 +8
研究成果(100 件)
- [2026] Electrical activity of Mg clustering at nanoscale defects induced by N ion implantation in GaNDOI: https://doi.org/10.48505/nims.6368
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0325306
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ae620d
- DOI: https://doi.org/10.1117/12.3082425
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2026.3667498
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ae466c
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ae396a
- [2026] Electrical activity of Mg clustering at nanoscale defects induced by N ion implantation in GaNDOI: https://doi.org/10.1063/5.0335166
- DOI: https://doi.org/10.1049/ell2.70194
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2025.3581168
続きを表示(残り 90 件)閉じる
- DOI: https://doi.org/10.1109/iedm50572.2025.11353579
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2025.m-4-01
- [2025] A 2.4 GHz-Band Amplifier with β-Ga <sub>2</sub> O <sub>3</sub> MESFET Fabricated by Mist CVD MethodDOI: https://doi.org/10.1109/apmc65046.2025.11378554
- DOI: https://doi.org/10.1002/pssb.202500409
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ae0907
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ade753
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2025.3530870
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2025.3579442
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0266700
- DOI: https://doi.org/10.23919/ispsd62843.2025.11117439
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ade3ac
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0255068
- DOI: https://doi.org/10.1002/pssb.202400613
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/adbeb6
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ae0866
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/adf8af
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/adf679
- DOI: https://doi.org/10.1109/drc66027.2025.11105751
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2024.d-7-01
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad918a
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad8c4f
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ada1b7
- DOI: https://doi.org/10.1109/iedm50854.2024.10873525
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad879d
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2024.ps-04-04
- [2024] Improvement of Gate Length Dependence in Electrical Characteristics of AlGaN/GaN Dual-Gate HEMTsDOI: https://doi.org/10.1109/ted.2024.3430889
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2024.3427103
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad63ef
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0201931
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2024.3381570
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2024.3375837
- DOI: https://doi.org/10.1117/12.2691563
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2024.3367314
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad2783
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad269d
- [2024] Record high electron mobilities in high-purity GaN by eliminating C-induced mobility collapseDOI: https://doi.org/10.1063/5.0178086
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0128709
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/acefa5
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ace150
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad16ad
- DOI: https://doi.org/10.23919/iwjt59028.2023.10175173
- DOI: https://doi.org/10.1109/iedm45741.2023.10413714
- [2023] Demonstration of AlN-based Vertical p-n Diodes with Dopant-Free Distributed-Polarization DopingDOI: https://doi.org/10.1109/iedm45741.2023.10413866
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ad0c43
- [2023] Improvement of AlSiO/GaN interface by a novel post deposition annealing using ultra high pressureDOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ad0ba5
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2023.n-1-03
- DOI: https://doi.org/10.1049/ell2.12798
- DOI: https://doi.org/10.1117/12.2646233
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0141781
- DOI: https://doi.org/10.1002/pssa.202200837
- DOI: https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118047
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/acec69
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0131470
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/acb97b
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac4f79
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/aca266
- DOI: https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019514
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/aca45d
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0106321
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0107921
- DOI: https://doi.org/10.1002/pssb.202270028
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0097866
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac87e4
- DOI: https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac7a7a
- DOI: https://doi.org/10.1038/s41598-022-05416-3
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac7433
- DOI: https://doi.org/10.1002/pssb.202200183
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0086535
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac0b09
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.vibspec.2021.103331
- DOI: https://doi.org/10.1109/ted.2021.3126270
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac39b0
- DOI: https://doi.org/10.1109/led.2021.3125328
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0073747
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac2a03
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0040920
- [2021] Isochronal annealing study of Mg-implanted p-type GaN activated by ultra-high-pressure annealingDOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/abf4f3
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac2ae7
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0059588
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2021.d-7-07
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0050793
- DOI: https://doi.org/10.7567/ssdm.2021.d-7-06
- DOI: https://doi.org/10.1049/ell2.12303
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac18af
- DOI: https://doi.org/10.35848/1882-0786/ac16ba
- DOI: https://doi.org/10.1049/ell2.12269
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0053139
科研費(0 件)
まだデータがありません(KAKEN 取り込み後に表示)。
所属学会・役職(0 件)
まだデータがありません(学会データ連携後に表示)。