Kazuhiro Yasuda 研究室
主宰者:Kazuhiro Yasuda
九州大学
AI 要約(直近 5 年の研究成果)
Kazuhiro Yasuda研究室では、高エネルギー電子やイオン線による物質への損傷メカニズムを解明する研究を行っています。放射線照射によって生じる原子欠陥の生成・成長過程を、電子顕微鏡を用いたその場観察や分光分析によって直接追跡し、物質がどのような微視的な変化を経験するのかを明らかにしています。酸化物セラミックスや合金、半導体など多くの材料系を対象としており、電子密度の変化や原子の化学状態の変化も同時に検出することで、単なる原子の移動だけでなく、その背後にある物理的メカニズムを特定しています。
一方、核燃料材料や次世代電子部品(はんだ接合部など)の信頼性向上に向けて、実際のデバイスで起こる変形や破壊のプロセスを原子スケールで観察する研究も展開しています。高電圧電子顕微鏡内で試料に応力を加えながら、結晶粒界の移動や亀裂の発生・伝播の様子をリアルタイムで記録し、接合部の失敗メカニズムを解き明かしています。さらに、第一原理計算によって放射線損傷の予測値を算出し、実験結果と比較することで、理論と実験を統合した包括的な理解を目指しています。これらの知見は、極限環境で使用される材料の開発と安全性向上に貢献しています。
※ AI(Claude)が、公開されている論文要旨から研究の問い・手法・主要な発見を事実情報として抽出・再構成して自動生成しています。誤りを含む可能性があるため、正確性は研究室公式情報でご確認ください。
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関連研究室(8 件)
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研究成果(32 件)
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- DOI: https://doi.org/10.1093/jmicro/dfaf058
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2025.156148
- DOI: https://doi.org/10.3390/ma18163925
- DOI: https://doi.org/10.1080/00295639.2025.2494185
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2025.102435
- DOI: https://doi.org/10.23919/icep-iaac64884.2025.11002927
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- DOI: https://doi.org/10.14293/apmc13-2025-0172
- DOI: https://doi.org/10.14293/apmc13-2025-0105
- DOI: https://doi.org/10.2320/materia.64.839
- DOI: https://doi.org/10.2320/materia.64.838
- DOI: https://doi.org/10.2320/materia.64.841
- [2025] Unravelling the threshold displacement energy of TaC using ab initio molecular dynamics simulationDOI: https://doi.org/10.1016/j.net.2025.103613
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2024.155584
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.net.2024.11.026
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165567
- DOI: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.4c05657
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0177001
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2024.165289
- [2023] In-situ investigation of the time-temperature dependent lattice and microstructure of Sn-Bi alloysDOI: https://doi.org/10.1016/j.mtla.2023.101974
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2023.154493
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jmst.2022.12.054
- DOI: https://doi.org/10.2320/materia.62.169
- DOI: https://doi.org/10.1063/5.0121951
- DOI: https://doi.org/10.1002/jrs.6414
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2022.153667
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.nme.2022.101144
- DOI: https://doi.org/10.1016/j.jnucmat.2021.153076
- DOI: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c08349
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